Agilent 4287A回收 Agilent4287A

    来源网站:chaoyang.zhunkua.com   更新日期:2018-05-18 06:55:23  信息编号:55Z46154【删除】   

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欧阳R:13537229325
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回收工厂闲置/倒闭电子仪器,个人处理仪器,欢迎来电. 回收工厂闲置/倒闭电子仪器,个人处理仪器,欢迎来电. 1MHz~3GHz,以100KHz分档
阻抗测量范围宽,从200mΩ到3KΩ
在低测度信号电平上具有优良的测量重复性
基本精度为1%
高速测量9ms
Agilent4287A射频测试仪
  Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz~3GHz频率范围可以提供精确,可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。 生产率高,质量可靠
  4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外,在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。 系统组建简单
  测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近,而不会使误差有任何增大。内置比较器功能,高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。 便于使用
  8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产。此外,若干APC-7 SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用,从而无需制作专用夹具。
技术指标
(全面的技术指标参见数据资料表)
测量参数:|Z|,|Y|,θ-z(度/弧度)θ-y(度/弧度),G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D(可同时显示4种测量参数)。
测试频率:1MHz~3GHz
频率分辨力:100KHz
测试信号:V:4.47mV~502mV(f≤1GHz); 4.47mV~447mv(f>1GHz)
     I:0.0894mA~10mA(f≤1GHz);0.0894mA~8.94mA(f>1GHz)
电平监视功能:电压,电流
基本的Z精度:±1.0%
测量范围:200mΩ~3kΩ(1MHz下,精度≤10%)
测量时间:每点9ms(最高速)
Rdc测量:可用于触点检查
校准:开路/短路/负载/低损耗电容量
补偿:开路/短路,电长度
大容量存储功能:30MB固态大容量存储或2GB硬盘(选择选件)
接口:GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择),处理器接口
显示:8.4英寸彩色LCD显示器 一般指标
电源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~63Hz,350VAmax
工作温度/湿度:5℃~40℃,相对湿度20%~80%
尺寸:234mm高×425宽×445mm深(主机)
重量:16kg/0.3kg(典型值)(主机/测试头) 主要技术资料
4287A射频LCR测试仪产品介绍,p/n 5968-5443E
4287A技术指标:p/n 5968-5758E
LCR测试仪,阻抗分析仪和测试夹具选购指南,p/n 5952-1430E
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